Voici une liste non exhaustive de supports choisis selon la nature et la taille de vos échantillons.


Porte échantillon poudre tournant, mode réflexion / transmission

Il permet des mesures selon deux modes, réflexion et transmission. Plusieurs coupelles sont proposées et la rotation en clomid cost walgreens find phi de l’échantillon permet de minimiser les effets d’orientation préférentielle. En transmission, l’échantillon est emprisonné entre deux fenêtres, généralement du kapton, et le porte échantillon est tourné de 90° par rapport à la réflexion.


Porte échantillon massif tournant, mode réflexion

Il permet des mesures en cheap levitra 40mg mode réflexion sur des échantillons poudre et www.ahc.edu.au massif, avec possibilité d’orientation en phi de l’échantillon pour minimiser les effets d’orientation préférentielle. L’ajustement en hauteur se fait grâce à des plots précalibrés et une vis micrométrique à pas fin et transmission, selon la coupelle utilisée.


Porte échantillon capillaire, mode transmission

Dans le cas de mesures sur échantillon peu absorbant, c'est-à-dire qu’il y a encore suffisamment de sources buy viagra on internet rayons X diffractés pour obtenir des résultats en un temps raisonnable, il est parfois nécessaire de privilégier des mesures en transmission pour obtenir des résultats de résolution et de précision meilleures que ceux obtenus en réflexion. Cette technique permet de minimiser, voire d’éliminer, les effets d’orientation préférentielle. L'échantillon est déposé dans un capillaire monté sur une tête goniométrique réglable (2 rotations et des translations X,Y, Z) avec une motorisation continue en phi.

Chambre de Gandolfi

Il s’agit d’obtenir un diffractogramme de poudre à partir d’un monocristal. Le cristal est fixé et réglé par une lunette ex situ sur un embout de verre subissant deux rotations simultanées de façon à exposer l’échantillon aux rayons X dans toutes les directions de l’espace. Les rotations étant régulières dans le temps, les positions ont statistiquement la même durée d'exposition aux rayons X. Les plans de diffraction seront donc lus comme si l’échantillon était préparé en poudre parfaitement homogène.

Porte échantillon sous atmosphère controlé

Il permet des mesures en mode réflexion, sous atmosphère contrôlée, à température ambiante, avec possibilité de rotation en phi de l’échantillon pour minimiser les effets d’orientation préférentielle.

Passeur automatique d'échantillons, 6 ou 30 positions

Le passeur d'échantillons est essentiellement utilisé avec une détection rapide afin d'obtenir un maximum de données en un temps minimum. Les séquences d'enregistrements sont sauvegardées par le logiciel qui pourra automatiquement établir un rapport des données en fin de séquence.

Dispositif couche mince

Pour permettre des mesures sur couche mince, il est nécessaire de motoriser la platine en θ et en Z. Cette motorisation est dimensionnée selon les conditions de mesure. Autrement dit, elle n’est pas la même selon que les mesures soient à température ambiante ou à température variable (nécessité de déplacer une cellule environnementale de poids non négligeable). Nous consulter pour définir vos besoins.

Sans oublier


Porte échantillon pour mesures sur fibres, mode transmission
Accesoires bas angles, SAXS, ...

      X-RAY DIFFRACTION

   FOR THE 21ST CENTURY

Nous contacter

Plan du site

+33 (0)2 38 80 45 45

 

Inel France
Z.A. - C.D. 405
45410  Artenay, France
Tél. +33 (0)2 38 80 45 45 | Fax +33 (0)2 38 80 08 14